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功率半导体加速老化测试平台
该测试平台主要用于加速功率半导体器件的老化速度,可将其10-30年的运行寿命缩短至3个月以内,并且在老化过程中,实施全方位电热性能的监测,深度评估被测功宰半导体的可靠性与寿命。
功率半导体测试平台
热阻分析软件
电压钳位探头
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